| Test Aralığı: | 0,001-300W/(m*K) | Numunenin sıcaklık aralığını ölçün: | -20°C -320°C (isteğe bağlı harici sıcaklık kontrol ekipmanı gerektirir) |
|---|---|---|---|
| Numune sıcaklığı artışı: | <15°C | Örnek güç P'yi test edin: | 1 numaralı prob gücü 0 |
| Prob çapı: | ±%3 | Tekrarlanabilirlik Hatası: | ≤%3 |
| Zamanı Ölçün: | 5~160s | ||
| Vurgulamak: | Yüksek hassasiyetli termal iletkenlik ölçer,Geçici düzlem ısı kaynağı test cihazı,Termal iletkenlik ölçüm ekipmanı |
||
Geçici Düzlemsel Isı Kaynağı Yöntemi Termal Ölçüm CihazıCihaz TanıtımıBXT-DR-S, geçici düzlemsel ısı kaynağı teknolojisi (TPS) kullanılarak geliştirilmiş bir termal iletkenlik test cihazıdır ve çeşitli malzeme türlerinin termal iletkenlik performansını test etmek için kullanılabilir. Geçici düzlemsel ısı kaynağı yöntemi, termal iletkenlik performansını incelemek için en yeni yöntem türüdür ve ölçüm tekniklerini yepyeni bir seviyeye taşımıştır. Malzemeleri incelerken termal iletkenliği hızlı ve doğru bir şekilde ölçme yeteneği, kurumsal kalite izleme, malzeme üretimi ve laboratuvar araştırmaları için büyük kolaylık sağlar. Cihazın kullanımı kolaydır, yöntem basittir ve anlaşılması kolaydır ve test edilen numuneye zarar vermez.Çalışma prensibiGeçici düzlemsel ısı kaynağı teknolojisi (TPS), termal iletkenliği ölçmek için yeni bir yöntemdir. Malzemelerin termal özelliklerini belirleme prensibi, sonsuz bir ortamda adım ısıtmalı disk şeklinde bir ısı kaynağı tarafından üretilen geçici sıcaklık yanıtına dayanmaktadır. Hem ısı kaynağı hem de sıcaklık sensörü olarak hizmet veren düz bir prob oluşturmak için termal dirençli malzemeler kullanılır. Bir alaşımın termal direnç katsayısı sıcaklık ve dirençle doğrusal olarak ilişkilidir, bu da dirençteki değişimi anlayarak ısı kaybının belirlenebileceği, böylece numunenin termal iletkenliğini yansıttığı anlamına gelir. Bu yöntemin probu, iletken alaşımın etkilendirilmesiyle oluşturulan sürekli bir çift sarmal yapılı ince filmdir, dış katmanda çift katmanlı yalıtkan koruyucu bir tabaka ve çok ince bir kalınlığa sahiptir, bu da proba belirli bir mekanik mukavemet kazandırır ve numuneyle elektriksel yalıtımı korur. Test süreci sırasında, prob test için numunenin ortasına yerleştirilir. Prob'dan akım geçtiğinde, belirli bir sıcaklık artışı oluşur ve eş zamanlı olarak üretilen ısı, probun her iki tarafındaki numunelere yayılır. Termal difüzyon hızı, malzemenin termal iletkenlik özelliklerine bağlıdır. Sıcaklık ve probun yanıt süresi kaydedilerek, termal iletkenlik doğrudan matematiksel bir modelden elde edilebilir.Metaller, seramikler, alaşımlar, cevherler, polimerler, kompozitler, kağıt, kumaşlar, köpük plastikler (ısı yalıtım malzemeleri ve düz yüzeyli plakalar), taş yünü, çimento duvarları, cam elyaf takviyeli kompozit plakalar CRC, çimento polistiren plakalar, sandviç beton, cam elyaf takviyeli çelik panel kompozit plakalar, kağıt petek plakalar, kolloidler, sıvılar, tozlar, granüler ve macun katılar vb. geniş bir test nesnesi yelpazesine sahiptir.
![]()
Ana özellikler
u
Tüm makine cihazları için referans standartları: ISO 22007-2
![]()
;
u
Test kapsamı geniştir, test performansı stabildir ve Çin'deki benzer cihazlar arasında önde gelen seviyededir;
![]()
u
Doğrudan ölçüm, yaklaşık 5-160 saniye ayarlanabilir test süresi ile, termal iletkenliği hızlı ve doğru bir şekilde ölçebilir, bu da çok zaman kazandırır;
u
![]()
Statik yöntem gibi temas termal direncinden etkilenmez;
Prob çapı Özel numune hazırlığı gerekmez ve numune şekli için belirli gereksinimler yoktur. Katı bloklar yalnızca nispeten pürüzsüz bir numune yüzeyi ve prob çapının en az iki katı uzunluk ve genişlik gerektirir;Güç kaynağı
Prob çapı u
Prob çapı u
Prob çapı u
Prob çapı s;
Prob çapı Ana bilgisayarın kontrol sistemi, geleneksel mikroişlemcilerden daha hızlı işlem hızına sahip ARM mikroişlemciler kullanır, sistemin analiz ve işleme yeteneklerini geliştirir ve daha doğru hesaplama sonuçları verir;
Prob çapı Cihaz, blok katılar, macun katılar, granüler katılar, kolloidler, sıvılar, tozlar, kaplamalar, filmler, yalıtım malzemeleri vb. gibi termal özelliklerin belirlenmesi için kullanılabilir;
Prob çapı Akıllı insan-makine arayüzü, renkli LCD ekran, dokunmatik ekran kontrolü, kolay ve basit kullanım;
Prob çapı Güçlü veri işleme yetenekleri. Yüksek oranda otomatikleştirilmiş bilgisayar veri iletişimi ve rapor işleme sistemi.
Teknik parametre
Prob çapı 0.001-300W/(m*K)
Prob çapı aralığı
Prob çapı (isteğe bağlı harici sıcaklık kontrol ekipmanı gerektirir)
Prob çapı No. 1 prob 7.5mm; No. 2 prob 15mm
;
|
Hayır. |
prob 30mm |
|
Hassasiyet ±3% |
Tekrarlanabilirlik hatası ≤3% |
|
Ölçüm süresi |
5~160sGüç kaynağıAC 220V Toplam güç |
|
﹤ |
500w |
|
Numune sıcaklık artışı |
﹤ |
|
15℃ |
Test numunesi gücü P |
|
No. 1 prob gücü 0 |
|
|
; |
|
|
No. 3 prob gücü 0 |
Numune özellikleri |
|
Prob No. 1 ile ölçülen tek numune (15*15*3.75mm) |
Prob No. 2 ile ölçülen tek numune (30*30*7.5mm)Prob No. 3 ile ölçülen tek numune (60*60*2mm)Not: Prob 1 ince düşük iletkenlikli malzemeleri ölçer, prob 2 geleneksel evrensel bir probdur, ve prob 3 yüksek termal iletkenliğe sahip yüksek iletkenlikli malzemeleri ölçer. Test edilen numunenin yüzeyi pürüzsüz, düz ve yapışkan ise, numune istiflenebilir.k , daha basit ve dahak |
|
apsamlıdır |
Geçici düzlemsel ısı kaynağı yöntemi Lazer yöntemi Sıcak hat yöntemi |
|
Koruma plakası yöntemi Ölçüm yöntemleri Durağan olmayan durum yöntemi |
|
Durağan olmayan durum yöntemi
Durağan olmayan durum yöntemi Durağan durum yöntemiFiziksel özellikleri ölçün
|
|
Termal iletkenliği ve termal difüziviteyi doğrudan elde edin |
Termal difüziviteyi ve öz ısıyı doğrudan elde edin ve girdi numune yoğunluk değerinden termal iletkenliği hesaplayın |
Termal iletkenliği doğrudan elde edin |
Termal iletkenliği doğrudan elde edin |
|
|
Uygulama kapsamı |
Katı |
Katı |
Katı |
Katı, sıvı |
|
|
Katı |
Numune Hazırlığı |
Özel yok |
hazırlığı |
hazırlığı |
|
|
Karmaşık numune hazırlığı |
Basit numune belirli gereksinimlerle hazırlığı |
± 3%, tercihen ± 0.5% |
Ölçüm doğruluğu |
± 3%, tercihen ± 0.5% |
|
|
Tercihen u |
p to ± 10% Tercihen ± 5% |
Tercihen ±3% |
Fiziksel model Düzlemsel ısı kaynağı temas ölçümü, sınırlı yüzey teması iyi olduğu sürece Temassız ısı kaynağı |
Tel ısı kaynağı, tel modelinin iyi temas etmesi gerekir |
|
|
Isı kaynağı temas tipi, iyi yüzey teması gerekir |
Termal iletkenlik aralığı[w/(m*k)] |
0.005-30010-5000.005-10 |
0.005-5 |
M |
|
|
easure zamanı |
5-160S |
Birkaç dakika |
Onlarca dakika |
Saatler |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|